SmartSPM

Microscopio a forza atomica per analisi topografiche di superficie | HORIBA

Microscopio a forza atomica per analisi topografiche di superficie a livello nanometrico SmartSPM: un sistema automatizzato al 100%

E’ il primo microscopio a scansione completamente automatizzato caratterizzato da tecnologia all’avanguardia che permette misurazioni ultraveloci, metrologiche e ad alta risoluzione.

SmartSPM assicura una ricerca di materiali avanzata su scala nanometrica nelle modalità AFM e STM.

SmartSPM
SmartSPM

 

Grazie al microscopio a forza atomica SmartSPM è possibile l’ingrandimento da una panoramica ampia fino a 100 µm nonché effettuare scansioni fino a risoluzione atomica.

Il suo design è stato sviluppato appositamente per essere integrato perfettamente con le spettroscopie ottiche: SNOM, Raman, Fotoluminescenza e tecniche TERS/TEPL.

Le modalità di analisi che sono possibili con il microscopio a forza atomica SmartSPM sono:

  • Contact AFM in air;
  • Semicontact AFM in air;
  • True Non-contact AFM;
  • Dynamic Force Microscopy (DFM, FM-AFM);
  • Dissipation Force Microscopy;
  • Top Mode;
  • Phase Imaging;
  • Lateral Force Microscopy (LFM);
  • Force Modulation;
  • Magnetic Force Microscopy (MFM);
  • Kelvin Probe (Surface Potential Microscopy);
  • Single-pass Kelvin Probe;
  • Capacitance Microscopy (SCM);
  • Electric Force Microscopy (EFM);
  • Single-pass MFM/EFM (“Plane scan”);
  • Force curve measurements;
  • Piezo Response Force Microscopy (PFM);
  • PFM-Top mode;
  • Nanolithography;
  • Nanomanipulation;
  • Shear-force Microscopy with tuning fork (ShFM);
  • Normal Force Microscopy with tuning fork;
  • Contact AFM in liquid (optional);
  • Semicontact AFM in liquid (optional);
  • Conductive AFM (optional);
  • I-Top mode (optional);
  • STM (optional);
  • Photocurrent Mapping (optional);
  • Volt-ampere characteristic measurements (optional).

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Microscopio a forza atomica per analisi topografiche di superficie | HORIBA ultima modifica: 2021-09-30T12:21:49+02:00 da Redazione

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