Microscopio a forza atomica per analisi topografiche di superficie a livello nanometrico SmartSPM: un sistema automatizzato al 100%
E’ il primo microscopio a scansione completamente automatizzato caratterizzato da tecnologia all’avanguardia che permette misurazioni ultraveloci, metrologiche e ad alta risoluzione.
SmartSPM assicura una ricerca di materiali avanzata su scala nanometrica nelle modalità AFM e STM.

Grazie al microscopio a forza atomica SmartSPM è possibile l’ingrandimento da una panoramica ampia fino a 100 µm nonché effettuare scansioni fino a risoluzione atomica.
Il suo design è stato sviluppato appositamente per essere integrato perfettamente con le spettroscopie ottiche: SNOM, Raman, Fotoluminescenza e tecniche TERS/TEPL.
Le modalità di analisi che sono possibili con il microscopio a forza atomica SmartSPM sono:
- Contact AFM in air;
- Semicontact AFM in air;
- True Non-contact AFM;
- Dynamic Force Microscopy (DFM, FM-AFM);
- Dissipation Force Microscopy;
- Top Mode;
- Phase Imaging;
- Lateral Force Microscopy (LFM);
- Force Modulation;
- Magnetic Force Microscopy (MFM);
- Kelvin Probe (Surface Potential Microscopy);
- Single-pass Kelvin Probe;
- Capacitance Microscopy (SCM);
- Electric Force Microscopy (EFM);
- Single-pass MFM/EFM (“Plane scan”);
- Force curve measurements;
- Piezo Response Force Microscopy (PFM);
- PFM-Top mode;
- Nanolithography;
- Nanomanipulation;
- Shear-force Microscopy with tuning fork (ShFM);
- Normal Force Microscopy with tuning fork;
- Contact AFM in liquid (optional);
- Semicontact AFM in liquid (optional);
- Conductive AFM (optional);
- I-Top mode (optional);
- STM (optional);
- Photocurrent Mapping (optional);
- Volt-ampere characteristic measurements (optional).
Microscopio a forza atomica per analisi topografiche di superficie | HORIBA
ultima modifica: 2021-09-30T12:21:49+02:00
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